Centrarse en la detección espectral y los sistemas de aplicación optoelectrónica
Con el desarrollo de tecnologías IoT, AI y 5G, la tecnología VCSEL (Vertical Cavity Surface Emit Laser), como tecnología central de sistemas de imagen y detección 3D, está ganando cada vez más atención en aplicaciones como reconocimiento facial, detección 3D, conducción autónoma, detección de gestos y VR (Realidad Virtual) / AR (Realidad Aumentada) / MR (Realidad Mixta).
LiSen Optics puede proporcionar a los clientes con soluciones de detección VCSEL / VCSEL-3D SENSING / TOF, que incluyen pruebas de integración de espectro / potencia LIV, pruebas de características de campo cercano NF, pruebas de características de campo lejano FF, pruebas de características de material óptico BRDF / BTDF AR / VR y esferas de integración específicas de VCSEL. Estas soluciones permiten la medición de distribución y uniformidad de energía, longitud de onda espectral y potencia, mediciones de campo cercano y campo lejano para dispositivos, módulos y chips de oblea VCSEL / Mini LED / Micro LED para satisfacer diversas necesidades de aplicaciones personalizadas.
Con el desarrollo de tecnologías IoT, AI y 5G, la tecnología VCSEL (Vertical Cavity Surface Emit Laser), como tecnología central de sistemas de imagen y detección 3D, está ganando cada vez más atención en aplicaciones como reconocimiento facial, detección 3D, conducción autónoma, detección de gestos y VR (Realidad Virtual) / AR (Realidad Aumentada) / MR (Realidad Mixta).
LiSen Optics puede proporcionar a los clientes con soluciones de detección VCSEL / VCSEL-3D SENSING / TOF, que incluyen pruebas de integración de espectro / potencia LIV, pruebas de características de campo cercano NF, pruebas de características de campo lejano FF, pruebas de características de material óptico BRDF / BTDF AR / VR y esferas de integración específicas de VCSEL. Estas soluciones permiten la medición de distribución y uniformidad de energía, longitud de onda espectral y potencia, mediciones de campo cercano y campo lejano para dispositivos, módulos y chips de oblea VCSEL / Mini LED / Micro LED para satisfacer diversas necesidades de aplicaciones personalizadas.
El sistema de pruebas de campo lejano LS-VCS-FF, desarrollado por LiSen Optics específicamente para pruebas de campo lejano VCSEL, puede medir el ángulo de divergencia de campo lejano y la distribución de energía espacial del haz, calculando así la colimación y simetría del haz. También puede medir la densidad de energía del haz a diferentes distancias para la evaluación de la seguridad del láser.

El sistema de pruebas de campo lejano LS-VCS-FF, desarrollado por LiSen Optics específicamente para pruebas de campo lejano VCSEL, puede medir el ángulo de divergencia de campo lejano y la distribución de energía espacial del haz, calculando así la colimación y simetría del haz. También puede medir la densidad de energía del haz a diferentes distancias para la evaluación de la seguridad del láser.

Principales características técnicas
● Alta eficiencia de colección: equipado con con una velocidad de fotogramas de 36,9 fps, cámara de alta resolución de 5 megapíxeles (400-1000 nm) / velocidad de fotogramas de 200 fps, cámara de 1,3 megapíxeles (900-1700 nm).
● Medición de alta precisión: utiliza motores de precisión para pruebas, rieles de guía de precisión y accesorios fijos con una interfaz estándar de montaje en C, que garantiza una alta precisión en la medición del ángulo de divergencia.
● Medición de fuente de luz versátil: Capaz de medir el ángulo de divergencia (2 ° ~ 70 °) de fuentes de luz láser o LED, así como DIP (depresión del centro del punto).
● Estándares múltiples para el diámetro del punto: proporciona cuatro estándares diferentes para definir el diámetro del punto, lo que facilita la medición integral de las características del ángulo de divergencia de campo lejano.
● Compacto y ligero: el sistema de prueba de campo lejano es de tamaño pequeño y ligero.

Principales características técnicas
● Alta eficiencia de colección: equipado con con una velocidad de fotogramas de 36,9 fps, cámara de alta resolución de 5 megapíxeles (400-1000 nm) / velocidad de fotogramas de 200 fps, cámara de 1,3 megapíxeles (900-1700 nm).
● Medición de alta precisión: utiliza motores de precisión para pruebas, rieles de guía de precisión y accesorios fijos con una interfaz estándar de montaje en C, que garantiza una alta precisión en la medición del ángulo de divergencia.
● Medición de fuente de luz versátil: Capaz de medir el ángulo de divergencia (2 ° ~ 70 °) de fuentes de luz láser o LED, así como DIP (depresión del centro del punto).
● Estándares múltiples para el diámetro del punto: proporciona cuatro estándares diferentes para definir el diámetro del punto, lo que facilita la medición integral de las características del ángulo de divergencia de campo lejano.
● Compacto y ligero: el sistema de prueba de campo lejano es de tamaño pequeño y ligero.

Principio técnico
El Principio Del Módulo De Prueba De Campo Lejano

Aplicación Relativa
![]() |
![]() |
Vcsel / Micro / Mini LED |
Detección 3D |
![]() |
![]() |
Seguridad de los ojos |
Robot de barrido |
Principio técnico
El Principio Del Módulo De Prueba De Campo Lejano

Aplicación Relativa
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Vcsel / Micro / Mini LED |
Detección 3D |
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Seguridad de los ojos |
Robot de barrido |
Indicadores técnicos
Modelo |
LS-VCS-FF |
Rango Espectral |
400-1000Nm / 900-1700nm |
Resolución de píxeles |
2592×1944 / 1280×1024 |
Tamaño objetivo |
1/2.8"(5,184 mm x 3,888 mm) / 1 / 2" (6,4 mm x 5,12 mm) |
Tamaño de píxeles |
2,0 micras / 5,0 micras |
Perpendicularidad |
<1° |
Precisión de posicionamiento |
0,01 mm |
Funciones de prueba de software |
Ángulo de divergencia de campo lejano del haz, DIP (defecto del centro del punto) |
Módulo y plataforma |
Módulo de ruta óptica de campo lejano y plataforma de fijación de muestra |
Dibujo de dimensiones LS-VCS-FF ( Unidad: mm )

Indicadores técnicos
Modelo |
LS-VCS-FF |
Rango Espectral |
400-1000Nm / 900-1700nm |
Resolución de píxeles |
2592×1944 / 1280×1024 |
Tamaño objetivo |
1/2.8"(5,184 mm x 3,888 mm) / 1 / 2" (6,4 mm x 5,12 mm) |
Tamaño de píxeles |
2,0 micras / 5,0 micras |
Perpendicularidad |
<1° |
Precisión de posicionamiento |
0,01 mm |
Funciones de prueba de software |
Ángulo de divergencia de campo lejano del haz, DIP (defecto del centro del punto) |
Módulo y plataforma |
Módulo de ruta óptica de campo lejano y plataforma de fijación de muestra |
Dibujo de dimensiones LS-VCS-FF ( Unidad: mm )
